Anderson Mussel D’Aquino, L. Carmo, Luci Pirmez, Claudio Miceli
{"title":"IBEMCS: IDS Baseado em Eventos Multi-Contexto para SCADA","authors":"Anderson Mussel D’Aquino, L. Carmo, Luci Pirmez, Claudio Miceli","doi":"10.5753/sbseg.2016.19302","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Atualmente os mecanismos de segurança utilizados para detecção de intrusão em ambientes de automação industrial utilizam dados exclusivos TIC (Tecnologia da Informação e Comunicação) ou TO (Tecnologia da Operação). Este trabalho propõe um IDS (Intrusion Detection System) que integra informações TIC e TO para identificação das cadeias de eventos TIC e TO que ocasionaram a falha no processo industrial. Medições demonstram que o tempo de resposta e a taxa de acerto são linearmente proporcionais ao volume de dados processados permitindo um planejamento prévio da arquitetura ao ambiente de trabalho.","PeriodicalId":337903,"journal":{"name":"Anais do XVI Simpósio Brasileiro de Segurança da Informação e de Sistemas Computacionais (SBSeg 2016)","volume":"5 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2016-11-07","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Anais do XVI Simpósio Brasileiro de Segurança da Informação e de Sistemas Computacionais (SBSeg 2016)","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.5753/sbseg.2016.19302","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Atualmente os mecanismos de segurança utilizados para detecção de intrusão em ambientes de automação industrial utilizam dados exclusivos TIC (Tecnologia da Informação e Comunicação) ou TO (Tecnologia da Operação). Este trabalho propõe um IDS (Intrusion Detection System) que integra informações TIC e TO para identificação das cadeias de eventos TIC e TO que ocasionaram a falha no processo industrial. Medições demonstram que o tempo de resposta e a taxa de acerto são linearmente proporcionais ao volume de dados processados permitindo um planejamento prévio da arquitetura ao ambiente de trabalho.