ТОКОВАЯ НЕУСТОЙЧИВОСТЬ УПРОЧНЕНИЯ МИКРОЭЛЕМЕНТА ДЕФОРМАЦИОННОЙ СРЕДЫ КАК ПРИЧИНА ФОРМИРОВАНИЯ БЕГАЮЩЕЙ ШЕЙКИ

Старенченко, В.А., Липатникова, Я.Д., Соловьева, Ю.В., Белов, Н.Н., Валуйская, Л.А., Вовнова, И.Г.
{"title":"ТОКОВАЯ НЕУСТОЙЧИВОСТЬ УПРОЧНЕНИЯ МИКРОЭЛЕМЕНТА ДЕФОРМАЦИОННОЙ СРЕДЫ КАК ПРИЧИНА ФОРМИРОВАНИЯ БЕГАЮЩЕЙ ШЕЙКИ","authors":"Старенченко, В.А., Липатникова, Я.Д., Соловьева, Ю.В., Белов, Н.Н., Валуйская, Л.А., Вовнова, И.Г.","doi":"10.25712/astu.1811-1416.2022.04.004","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Настоящая работа посвящена исследованию влияния «токовой» неустойчивости упрочнения элемента деформационной среды на локализацию деформации на разных масштабных уровнях. Термин «токовая неустойчивость» взят из характеристики токовой неустойчивости электропроводности полупроводников в сильных электрических полях, имеющей характерную кривую ток-напряжение (I-U) [1]. Аналогичная форма кривой упрочнения элемента среды деформирующее напряжение-деформация (σ-ε) рассматривается как причина локализации деформации. Рассмотрены и моделируются явления локализации деформации, вызванные «токовой» неустойчивостью различного вида. Показано, что сценарий пластического течения при «токовой» неустойчивости, заложенный на уровне микроэлемента среды, может проявляться на макромасштабном уровне пластического течения в виде локализаций различного вида. Моделирование проведено на основе конечно-элементной двухуровневой модели, предложенной ранее авторами статьи [2]. Рассмотрены случаи, когда в зависимости от вида кривых упрочнения элементарного объема деформируемого образца, описывающих «токовую» неустойчивость, на макроуровне наблюдается либо «устойчивая», либо «бегающая» шейка при одноосном растяжении образца.","PeriodicalId":412008,"journal":{"name":"Фундаментальные проблемы современного материаловедения","volume":"53 9","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2022-12-26","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Фундаментальные проблемы современного материаловедения","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.25712/astu.1811-1416.2022.04.004","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

Настоящая работа посвящена исследованию влияния «токовой» неустойчивости упрочнения элемента деформационной среды на локализацию деформации на разных масштабных уровнях. Термин «токовая неустойчивость» взят из характеристики токовой неустойчивости электропроводности полупроводников в сильных электрических полях, имеющей характерную кривую ток-напряжение (I-U) [1]. Аналогичная форма кривой упрочнения элемента среды деформирующее напряжение-деформация (σ-ε) рассматривается как причина локализации деформации. Рассмотрены и моделируются явления локализации деформации, вызванные «токовой» неустойчивостью различного вида. Показано, что сценарий пластического течения при «токовой» неустойчивости, заложенный на уровне микроэлемента среды, может проявляться на макромасштабном уровне пластического течения в виде локализаций различного вида. Моделирование проведено на основе конечно-элементной двухуровневой модели, предложенной ранее авторами статьи [2]. Рассмотрены случаи, когда в зависимости от вида кривых упрочнения элементарного объема деформируемого образца, описывающих «токовую» неустойчивость, на макроуровне наблюдается либо «устойчивая», либо «бегающая» шейка при одноосном растяжении образца.
微元素强度的电流不稳定性
真正的工作是研究“电流”不稳定性的影响,使变形介质的元素更强,并在不同的尺度上定位变形。“电流不稳定性”一词来源于强电场半导体电流不稳定性的特征,其特征是电流电压曲线(I-U)(1)。类似的环境加固曲线形式,变形应力,被认为是局部变形的原因。由不同物种的电流不稳定性引起的应变局部现象被观察和模拟。表明,在环境微量元素水平上建立的“电流”不稳定性的情况可以以不同类型的局部形式在宏观尺度上表现出来。当然,建模是基于文章(2)之前提交人提出的二元模型。研究的案例是,根据描述“电流”不稳定性的基本强度曲线的类型,宏观层面上出现的是单轴拉伸时“稳定”或“奔跑”颈部。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 求助全文
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:604180095
Book学术官方微信
小红书