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宇航计测技术

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162

英文名称：

Journal of Astronautic Metrology and Measurement

CN：

11-2052/V

影响因子：

0.42

ISSN：

1000-7202

期刊官网：

http://www.yhjcjs.com.cn/

主管：

中国航天科技集团有限公司

主办单位：

中国航天科技集团102所;中国航天科工集团公司二院203所

发文信息

发文量：

4299

被引量：

12912

历年影响因子

历年发表

投稿信息

出版周期：

双月

出版语言：

中文

邮政编码：

100076

Email：

editor@yhjcjs.com.cn

投稿网址：

编辑部地址：

北京市

宇航计测技术 - 最新文献

Pub Date : 2012-01-01 DOI: 10.1007/978-3-642-29458-7_106 Zhen Kelong, Lv Shanwei, Zhang Yan

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