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2017 22nd IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) - 最新文献
Modeling Misbehavior Detection Timeliness in VANETs
Pub Date : 2022-01-01 DOI: 10.1109/ETFA52439.2022.9921605 M. M. Lucena, A. A. FröhlichTowards Practical and Formal Security Risk Analysis of IoT (Internet of Things) Applications
Pub Date : 2022-01-01 DOI: 10.1109/ETFA52439.2022.9921511 Muhammad Taimoor KhanEmbedding Anomaly Detection Autoencoders for Wind Turbines
Pub Date : 2022-01-01 DOI: 10.1109/ETFA52439.2022.9921541 José Luís Conradi Hoffmann, A. A. Fröhlich
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