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24英文名称：
Electronic Test
曾用名：
微电子测试
CN：
11-3927/TN
影响因子：
0.267
ISSN：
1000-8519
期刊官网：
主管：
北京市科学技术研究院
主办单位：
北京自动测试技术研究所
发文信息
发文量：
23810
被引量：
42647
历年影响因子
历年发表
投稿信息
出版周期：
半月
出版语言：
中文
邮政编码：
100098
Email：
ed@test169.com dzcszzss@163.com
编辑部地址：
北京市
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
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