IEEE Instrumentation & Measurement Magazine

IEEE Instrumentation & Measurement Magazine
期刊缩写:
IEEE INSTRU MEAS MAG
影响因子:
1.6
ISSN:
print: 1094-6969
研究领域:
工程技术-工程:电子与电气
创刊年份:
1998年
h-index:
38
自引率:
4.80%
Gold OA文章占比:
0.00%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine is a bimonthly publication. It publishes in February, April, June, August, October, and December of each year. The magazine covers a wide variety of topics in instrumentation, measurement, and systems that measure or instrument equipment or other systems. The magazine has the goal of providing readable introductions and overviews of technology in instrumentation and measurement to a wide engineering audience. It does this through articles, tutorials, columns, and departments. Its goal is to cross disciplines to encourage further research and development in instrumentation and measurement.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
4.20.4960.763
学科
排名
百分位
大类:Engineering
小类:Electrical and Electronic Engineering
312 / 797
60%
大类:Physics and Astronomy
小类:Instrumentation
56 / 141
60%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 工程技术
4区 工程:电子与电气 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
4区 仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
WOS期刊分区
学科分类
Q3ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
Q3INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
历年影响因子
2015年0.7590
2016年1.4380
2017年1.8950
2018年1.0240
2019年1.5490
2020年1.5050
2021年1.5480
2022年2.1000
2023年1.6000
历年发表
2012年117
2013年114
2014年108
2015年115
2016年136
2017年110
2018年117
2019年131
2020年165
2021年189
2022年147
投稿信息
出版周期:
Quarterly
出版语言:
English
出版国家(地区):
UNITED STATES
审稿时长:
>12 weeks
出版商:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
编辑部地址:
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141

IEEE Instrumentation & Measurement Magazine - 最新文献

Measurement Methodology: Blade Tip Timing: A Non-Contact Blade Vibration Measurement Method

Pub Date : 2023-12-01 DOI: 10.1109/MIM.2023.10328672 Haoqi Li, Shuming Wu, Zhibo Yang, Ruqiang Yan, Xuefeng Chen

Fundamentals in Measurement: Looking Out for Number 1

Pub Date : 2023-12-01 DOI: 10.1109/MIM.2023.10328673 Richard Davis

Addressing Non-Idealities and EIS Measurement: From Inspection to Implementation

Pub Date : 2023-12-01 DOI: 10.1109/MIM.2023.10328669 Aatha Mohin Shaikh, R. Patel, M. Vinchurkar, Rajul S. Patkar, A. Adami, Flavio Giacomozzi, Leandro Lorenzelli, M. Baghini
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