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Journal of Electronic Testing - 最新文献
An Automatic Software Testing Method to Discover Hard-to-Detect Faults Using Hybrid Olympiad Optimization Algorithm
Pub Date : 2024-09-10 DOI: 10.1007/s10836-024-06136-4 Leiqing Zheng, Bahman Arasteh, Mahsa Nazeri Mehrabani, Amir Vahide AbaniaHigh-Dimensional Feature Fault Diagnosis Method Based on HEFS-LGBM
Pub Date : 2024-09-05 DOI: 10.1007/s10836-024-06134-6 Gen Li, Wenhai Li, Tianzhu Wen, Weichao Sun, Xi TangPebble Traversal-Based Fault Detection and Advanced Reconfiguration Technique for Digital Microfluidic Biochips
Pub Date : 2024-09-04 DOI: 10.1007/s10836-024-06137-3 Basudev Saha, Bidyut Das, Vineeta Shukla, Mukta Majumder
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