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Труды Российского научно-технического общества радиотехники, электроники и связи имени А.С. Попова. Материалы 15-ой Международной конференции. Выпуск XV - 最新文献
Optical characterization of diffusion transition layers in thin films using surface plasmon resonance spectroscopy
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.25210/armimp-2022-24 I. Khasanov, A. V. Anisimov, S. LobastovApplication of the fringe projection profilometry to estimate the error of photogrammetric systems
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.25210/armimp-2022-06 N. Sivov, A. Poroykov, E. ShmatkoGeneralization of the physical theory of diffraction to the perfectly conducting wedge excitation by a cylindrical wave
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.25210/armimp-2022-19 V. V. Akhiyarov
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