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2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - 最新文献
A Fault Tolerant soft-core obtained from an Interleaved-Multi- Threading RISC- V microprocessor design
Pub Date : 2021-10-06 DOI: 10.1109/DFT52944.2021.9568368 Marcello Barbirotta, Abdallah Cheikh, A. Mastrandrea, F. Menichelli, F. Vigli, M. OlivieriReliability Assessment of Memristor based Gas Sensor Array
Pub Date : 2021-10-06 DOI: 10.1109/DFT52944.2021.9568304 Vishal Gupta, Giulio Panunzi, S. Khandelwal, E. Martinelli, A. Jabir, M. OttaviAn Aging-Aware CMOS SRAM Structure Design for Boolean Logic In-Memory Computing
Pub Date : 2021-10-06 DOI: 10.1109/DFT52944.2021.9568343 W. Chang, Yu-Guang Chen, Po-Yeh Huang, Jin-Fu Li
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