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2017 IEEE International Test Conference (ITC) - 最新文献
Accurate and robust spectral testing with relaxed instrumentation requirements
Pub Date : 2018-04-04 DOI: 10.1109/TEST.2017.8242081 Yuming Zhuang, Degang ChenA run-pause-resume silicon debug technique with cycle granularity for multiple clock domain systems
Pub Date : 2017-12-29 DOI: 10.1109/TEST.2017.8242077 Shuo-Lian Hong, Kuen-Jong LeeDemystifying automotive safety and security for semiconductor developer
Pub Date : 2017-10-01 DOI: 10.1109/TEST.2017.8242074 V. Prasanth, David Foley, S. Ravi
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