The Eighth IEEE European Test Workshop, 2003. Proceedings.

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The Eighth IEEE European Test Workshop, 2003. Proceedings. - 最新文献

Control-aware test architecture design for modular SOC testing

Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231669 S. Goel, E. Marinissen

Automating test program generation in STIL - expectations and experiences using IEEE 1450 [standard test interface language]

Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231675 H. Lang, B. Pande, H. Ahrens

On the selection of efficient arithmetic additive test pattern generators [logic test]

Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231662 S. Manich, L. García, L. Balado, E. Lupon, J. Rius, R. Rodríguez-Montañés, J. Figueras
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