查看最新文献
订阅
分享
827发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
The Eighth IEEE European Test Workshop, 2003. Proceedings. - 最新文献
Control-aware test architecture design for modular SOC testing
Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231669 S. Goel, E. MarinissenAutomating test program generation in STIL - expectations and experiences using IEEE 1450 [standard test interface language]
Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231675 H. Lang, B. Pande, H. AhrensEnhanced P1500 compliant wrapper suitable for delay fault testing of embedded cores
Pub Date : 2003-05-25 DOI: 10.1109/ETW.2003.1231678 H. Vermaak, H. Kerkhoff
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
