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2004 IEEE Radiation Effects Data Workshop (IEEE Cat. No.04TH8774) - 最新文献
Technical standard for atmospheric radiation single event effects, (SEE) on avionics electronics
Pub Date : 2004-07-22 DOI: 10.1109/REDW.2004.1352895 R. Edwards, C. Dyer, E. NormandTotal dose effects and SEE screening on MEMS COTS accelerometers
Pub Date : 2004-07-22 DOI: 10.1109/REDW.2004.1352918 O. Cournar, F. Miller, N. Buard, P. Poirot, R. Gaillard, L. MarchandA radiation-hardened high-precision resolver-to-digital converter (RDC)
Pub Date : 2004-07-22 DOI: 10.1109/REDW.2004.1352913 N. Nowlin, S. McEndree, D. Butcher
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