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2001 GaAs Reliability Workshop. Proceedings (IEEE Cat. No.01TH8602) - 最新文献
Comparative thermal characterizations of GaAs and SiC devices
Pub Date : 2001-10-21 DOI: 10.1109/GAASRW.2001.995723 J. Mittereder, W. Anderson, F. Buot, D. IoannouReliability of metamorphic HEMTs on GaAs substrates
Pub Date : 2001-10-21 DOI: 10.1109/GAASRW.2001.995739 P. Marsh, C. Whelan, W. Hoke, R. Leoni, T. KaziorEffect of gate metal on reliability of metamorphic HEMTs
Pub Date : 2001-10-21 DOI: 10.1109/GAASRW.2001.995734 M. Dammann, A. Leuther, H. Konstanzer, W. Jantz
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