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2010 2nd International Conference on Reliability, Safety and Hazard - Risk-Based Technologies and Physics-of-Failure Methods (ICRESH) - 最新文献
Innovation diffusion of successive generations of high technology products
Pub Date : 2010-12-01 DOI: 10.1109/ICRESH.2010.5779602 P. Kapur, U. Chanda, Abhishek Tandon, Sameer AnandOptimal testing resource allocation for modular software considering imperfect debugging and change point using genetic algorithm
Pub Date : 2010-12-01 DOI: 10.1109/ICRESH.2010.5779607 A. Aggarwal, Gurjeet Kaur, P. K. KapurA reliability growth model for object oriented software developed under concurrent distributed development environment
Pub Date : 2010-12-01 DOI: 10.1109/ICRESH.2010.5779597 V. Singh, Sujata Khatri, P. K. Kapur
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