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2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) - 最新文献
K-band low-noise amplifier with stacked-diode ESD protection in nanoscale CMOS technology
Pub Date : 2017-10-05 DOI: 10.1109/IPFA.2017.8060074 Meng-Ting Lin, Chun-Yu LinReproducibility of implanted dosage measurement with CAMECA Wf
Pub Date : 2017-07-04 DOI: 10.1109/IPFA.2017.8060158 Kian Kok Ong, Yun Wang, Zhiqiang Mo, S. ZhaoMulti-trap energy states in GaN HEMTs: Characterization and modeling
Pub Date : 2017-07-04 DOI: 10.1109/IPFA.2017.8060065 B. Syamal, Xing Zhou, Siau Ben Chiah
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