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2017 IEEE North Atlantic Test Workshop (NATW) - 最新文献
An enhanced approach to reduce test application time through limited shift operations in scan chains
Pub Date : 2017-05-01 DOI: 10.1109/NATW.2017.7938026 K. Poulos, Jayasurya Kuchi, T. HaniotakisManufacturer turned attacker: Dangers of stealthy trojans via threshold voltage manipulation
Pub Date : 2017-05-01 DOI: 10.1109/NATW.2017.7938024 Vinay C. Patil, Arunkumar Vijayakumar, S. KunduPeer pressure on identity: On requirements for disambiguating PUFs in noisy environment
Pub Date : 2017-05-01 DOI: 10.1109/NATW.2017.7938023 P. Ramesh, Vinay C. Patil, S. Kundu
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