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Proceedings of the 23rd International Systems and Software Product Line Conference - Volume B - 最新文献
Textual Variability Modeling Languages: An Overview and Considerations
Pub Date : 2019-09-09 DOI: 10.1145/3307630.3342398 M. T. Beek, Klaus Schmid, Holger EichelbergerMetricHaven: More than 23,000 Metrics for Measuring Quality Attributes of Software Product Lines
Pub Date : 2019-09-09 DOI: 10.1145/3307630.3342384 Sascha El-Sharkawy, Adam Krafczyk, Klaus SchmidOn Language Levels for Feature Modeling Notations
Pub Date : 2019-09-09 DOI: 10.1145/3307630.3342404 Thomas Thüm, C. Seidl, Ina Schaefer
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