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IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2004 - 最新文献
Recovery of NBTI degradation in HfSiON/metal gate transistors
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/IRWS.2004.1422756 H. Harris, R. Choi, B. Lee, C. Young, J. Sim, K. Mathews, P. Zeitzoff, P. Majhi, G. BersukerBayesian approach to reliability projection for high k dielectric thin films
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/IRWS.2004.1422771 W. Luo, W. Kuo, Y. KuoCircuit and silicide impact on the correlation between TLP and ESD (HBM and MM)
Pub Date : 2004-10-18 DOI: 10.1109/IRWS.2004.1422766 S. Huang, J.H. Lee, S.C. Lee, K. Chen, M.H. Song, C. Chiang, Mi-Chang Chang
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