查看最新文献
订阅
分享
1522发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures - 最新文献
Direct extraction method of SOI MOSFET transistors parameters
Pub Date : 1996-03-25 DOI: 10.1109/ICMTS.1996.535644 J. Raskin, R. Gillon, D. Vanhoenacker, J. ColingeCharacterizing the mismatch of submicron MOS transistors
Pub Date : 1996-03-25 DOI: 10.1109/ICMTS.1996.535619 S. Lovett, R. Clancy, M. Welten, A. Mathewson, B. MasonMeasurement of interface states in the LDD region of a MOS transistor using a modified charge pumping technique
Pub Date : 1996-03-25 DOI: 10.1109/ICMTS.1996.535626 V. Prabhakar, T. Broiek, Y. Chan, C. Viswanathan
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
