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81st ARFTG Microwave Measurement Conference - 最新文献
High resolution wideband calibration procedure for RF time-domain measurement of non-linear devices
Pub Date : 2013-06-07 DOI: 10.1109/ARFTG.2013.6579022 K. El-Akhdar, S. Ahmed, T. Reveyrand, G. Neveux, D. Barataud, J. NebusThe impact of characteristic impedance on waveform calibrations
Pub Date : 2013-06-07 DOI: 10.1109/ARFTG.2013.6579023 Dylan F. Williams, J. Jargon, P. HaleComparing accuracy of waveguide VNA measurement calibrated by TRL calibration using different length of line standard in terahertz band
Pub Date : 2013-06-07 DOI: 10.1109/ARFTG.2013.6579024 M. Horibe, R. Kishikawa
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