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Proceedings. 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.97TB100125) - 最新文献
Random pattern testability of memory control logic
Pub Date : 1997-04-27 DOI: 10.1109/VTEST.1997.600317 J. SavirA methodolgy for characterizing cell testability
Pub Date : 1997-04-27 DOI: 10.1109/VTEST.1997.600313 A. Jee, F. FergusonTest of RAM-based FPGA: methodology and application to the interconnect
Pub Date : 1997-04-27 DOI: 10.1109/VTEST.1997.600278 M. Renovell, J. Figueras, Y. Zorian
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