2017 IEEE AUTOTESTCON - 最新文献
Pub Date : 2018-08-01
DOI: 10.1109/MIM.2018.8423742
W. J. Headrick, G. Garcia
Pub Date : 2017-09-01
DOI: 10.1109/AUTEST.2017.8080496
Wafa Ben Hassen, N. Ravot, A. Dupret, Armando Zanchetta, F. Morel, Laurent Pillon
Pub Date : 2017-09-01
DOI: 10.1109/AUTEST.2017.8080483
M. Tsypkin
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