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Records of the 2004 International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 2004. - 最新文献
Built-in self-test and repair (BISTR) techniques for embedded RAMs
Pub Date : 2004-08-30 DOI: 10.1109/MTDT.2004.7 Shyue-Kung Lu, Shih-Chang HuangRedundancy - it's not just for defects any more
Pub Date : 2004-08-30 DOI: 10.1109/MTDT.2004.19 R. AitkenDo we need anything more than single bit error correction (ECC)?
Pub Date : 2004-08-30 DOI: 10.1109/MTDT.2004.9 M. Spica, T. M. Mak
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