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2015 IEEE 24th North Atlantic Test Workshop - 最新文献
An Industrial Case Study: PaRent (Parallel & Concurrent) Testing for Complex Mixed-Signal Devices
Pub Date : 2015-05-11 DOI: 10.1109/NATW.2015.19 Jennifer Dworak, P. Gui, Qutaiba KhasawnehClock Domain Imbalances and Their Impact on Test Architecture
Pub Date : 2015-05-11 DOI: 10.1109/NATW.2015.10 R. TekumallaComplete Properties Extraction from Simulation Traces for Assertions Auto-generation
Pub Date : 2015-05-11 DOI: 10.1109/NATW.2015.8 M. Hanafy, H. Said, A. Wahba
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