查看最新文献
订阅
分享
840发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2020 IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) - 最新文献
Analysis and detection of hard-to-detect full open defects in FinFET based SRAM cells
Pub Date : 2020-03-01 DOI: 10.1109/LATS49555.2020.9093680 Zahira Perez, Javier Mesalles, Hector Villacorta, F. Vargas, V. ChampacDevelopment and evaluation of a flexible instrumentation layer for system-level testing of radiation effects
Pub Date : 2020-03-01 DOI: 10.1109/LATS49555.2020.9093681 Israel C. Lopes, V. Pouget, F. Wrobel, F. Saigné, A. Touboul, K. Røed
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
