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2021 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) - 最新文献
Investigation on the Single-event Burnout and Hardening of the 500V SOI Lateral-IGBT
Pub Date : 2021-05-30 DOI: 10.23919/ISPSD50666.2021.9452275 Yiwen Qian, Wangran Wu, Guangan Yang, Jing Yang, Long Zhang, Weifeng SunComparison of Short Circuit Robustness and Failure Mechanisms of GaN/SiC Cascode Devices and SiC Power MOSFETs
Pub Date : 2021-05-30 DOI: 10.23919/ISPSD50666.2021.9452266 Jiahui Sun, Kailun Zhong, Zheyang Zheng, G. Lyu, K. J. Chen
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