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24th IEEE VLSI Test Symposium - 最新文献
Enhanced timing-based transition delay testing for small delay defects
Pub Date : 2006-04-30 DOI: 10.1109/VTS.2006.33 Richard Putman, Rahul GawdeImproved handling of false and multicycle paths in ATPG
Pub Date : 2006-04-30 DOI: 10.1109/VTS.2006.38 Vlado Vorisek, B. Swanson, Kun-Han Tsai, Dhiraj GoswamiOutput hazard-free transition tests for silicon calibrated scan based delay testing
Pub Date : 2006-04-30 DOI: 10.1109/VTS.2006.53 A. Singh, Gefu Xu
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