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83rd ARFTG Microwave Measurement Conference - 最新文献
A new method for the determination of the reflection and transmission characteristics of dielectric materials
Pub Date : 2014-06-06 DOI: 10.1109/ARFTG.2014.6899536 Jeong-Hwan Kim, Jin-Seob Kang, J. Park, T. KangEstimation of complex residual errors of calibrated two-port vector network analyzer
Pub Date : 2014-06-06 DOI: 10.1109/ARFTG.2014.6899509 A. Savin, V. G. Guba, A. Rumiantsev, Benjamin D. MaxsonMeasurements for microwave differential and IQ devices
Pub Date : 2014-06-06 DOI: 10.1109/ARFTG.2014.6899518 J. Dunsmore, Xin Chen
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