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47th ARFTG Conference Digest - 最新文献
Statistical Calibration of Wafer Probe Data into a Fixtured Environment
Pub Date : 1996-06-20 DOI: 10.1109/ARFTG.1996.327175 J. Carroll, E. Reese, Kai Chang, Fred DahmAccuracy Improvement of the Automated Multiprobe Transmission Line Reflectometer
Pub Date : 1996-06-20 DOI: 10.1109/ARFTG.1996.327147 A. L’vov, K. V. Semenov, A. A. MorzhakovA New Technique for Measuring the Scattering Parameters of Two-Port Junctions with a Single Multiport Reflectometer
Pub Date : 1996-06-20 DOI: 10.1109/ARFTG.1996.327145 A. L’vov, A. S. Moutchkaev
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