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Proceedings 18th IEEE VLSI Test Symposium - 最新文献
Invariance-based on-line test for RTL controller-datapath circuits
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/VTEST.2000.843879 Y. Makris, I. Bayraktaroglu, A. OrailogluEfficient diagnosis of single/double bridging faults with Delta Iddq probabilistic signatures and Viterbi algorithm
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/VTEST.2000.843875 C. ThibeaultSpace compaction of test responses for IP cores using orthogonal transmission functions
Pub Date : 2000-04-30 DOI: 10.1109/VTEST.2000.843848 M. Seuring, K. Chakrabarty
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