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Proposed for presentation at the SIAM Conference on Computional Science and Engineering 2021 held March 1-5, 2021 in Ft. Worth, Texas. - 最新文献
Extraction of Data-Driven Compact Models from High-Fidelity Semiconductor Simulations with Topological Data Analysis.
Pub Date : 2021-03-01 DOI: 10.2172/1854316 Andy Huang, N. Trask, Xujiao Gao, Shahed Reza, I. Wilcox, Candace Diaz
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