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2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems - 最新文献
Diagnosis of Multiple Faults Based on Fault-Tuple Equivalence Tree
Pub Date : 2011-10-03 DOI: 10.1109/DFT.2011.37 Xun Tang, Wu-Tung Cheng, Ruifeng Guo, Huaxing Tang, S. ReddyBiased Voting for Improved Yield in Nanoscale Fabrics
Pub Date : 2011-10-03 DOI: 10.1109/DFT.2011.29 Md. Muwyid U. Khan, P. Narayanan, P. Vijayakumar, I. Koren, C. M. Krishna, C. A. MoritzControl-Flow Recovery Validation Using Microarchitectural Invariants
Pub Date : 2011-10-03 DOI: 10.1109/DFT.2011.32 J. Carretero, J. Abella, X. Vera, P. Chaparro
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