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The First Egyptian Workshop on Advancements of Electronic Devices, 2002. (EWAED). - 最新文献
Impact of CMOS device scaling in ASICs on radiation immunity
Pub Date : 2002-09-28 DOI: 10.1109/EWAED.2002.1177875 H. Ragaie, S. KayedTheoretical investigation of single- and dual-gate MITT nanometer transistors
Pub Date : 2002-09-28 DOI: 10.1109/EWAED.2002.1177882 A. Shaker, A. ZekryMicrothyristor as a microelectronics device
Pub Date : 2002-09-28 DOI: 10.1109/EWAED.2002.1177878 A. Zekry, I. Hafez, M. El-Hady
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