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2013 22nd Asian Test Symposium - 最新文献
Thermal Aware Don't Care Filling to Reduce Peak Temperature and Thermal Variance during Testing
Pub Date : 2013-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2013.15 Arpita Dutta, Subhadip Kundu, S. ChattopadhyaySearch Space Reduction for Low-Power Test Generation
Pub Date : 2013-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2013.40 K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. KajiharaHandling Missing Syndromes in Board-Level Functional-Fault Diagnosis
Pub Date : 2013-11-18 DOI: 10.1109/ATS.2013.22 Fangming Ye, Shi Jin, Zhaobo Zhang, K. Chakrabarty, Xinli Gu
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