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Proceedings Eighth Asian Test Symposium (ATS'99) - 最新文献
A BIST TPG approach for interconnect testing with the IEEE 1149.1 STD
Pub Date : 1999-11-16 DOI: 10.1109/ATS.1999.810735 Wenyi Feng, Wei-Kang Huang, F. Meyer, F. LombardiHigh resolution CD-SEM system
Pub Date : 1999-11-16 DOI: 10.1109/ATS.1999.810779 Y. Ose, M. Ezumi, H. TodokoroA novel fault-detection technique for the parallel multipliers and dividers
Pub Date : 1999-11-16 DOI: 10.1109/ATS.1999.810740 C. Arjhan, R. G. Deshmukh
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