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Proceedings of the 7th Conference on Semi-insulating III-V Materials, - 最新文献
Relation between structure and lifetime of minority carriers -in MBE GaAs grown at low temperatures
Pub Date : 1992-04-21 DOI: 10.1109/SIM.1992.752689 Z. Liliental-Weber, S. Gupta, F. SmithX-ray topography used as a routine tool in the evaluation of the crystal quality of GaAs substrate wafers
Pub Date : 1992-04-21 DOI: 10.1109/SIM.1992.752697 I.C. Bassignana, D.A. MacquistanProperties of high-resistivity Li-diffused GaAs
Pub Date : 1992-04-21 DOI: 10.1109/SIM.1992.752677 H. Gíslason, B. H. Yang, M. Linnarsson
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