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2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) - 最新文献
Performances and Trade-offs of Low-Bit Precision Neural Networks based on Resistive Memories
Pub Date : 2021-10-04 DOI: 10.1109/IIRW53245.2021.9635626 T. Zanotti, P. Pavan, F. PuglisiImpact of Lorentz Force On Atomic Flux During Electromigration
Pub Date : 2021-10-04 DOI: 10.1109/IIRW53245.2021.9635617 Rao R. Morusupalli, D. Littlefield, W. NixUnderstanding the Reliability of Ferroelectric Tunnel Junction Operations using an Advanced Small-Signal Model
Pub Date : 2021-10-04 DOI: 10.1109/IIRW53245.2021.9635621 Lorenzo Benatti, F. Puglisi
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