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2009 4th International Design and Test Workshop (IDT) - 最新文献
Digital on-chip phase noise measurement
Pub Date : 2009-11-01 DOI: 10.1109/IDT.2009.5404090 M. Ouda, E. Hegazi, H. RagaiA novel 3-in-1 MEMS variable capacitance device with a customizable tuning range
Pub Date : 2009-11-01 DOI: 10.1109/IDT.2009.5404151 A. Elshurafa, E. El-MasryFPGA based selective harmonic elimination pulse width modulation technique
Pub Date : 2009-11-01 DOI: 10.1109/IDT.2009.5404137 Basil M. Saied, Shefa A. Dawwd, Ahmad S. Al-Soufi
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