2022 IEEE International Test Conference India (ITC India)

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2022 IEEE International Test Conference India (ITC India) - 最新文献

A Threshold based Hardware Trojan Detection Technique Using XGBoost Algorithm

Pub Date : 2022-07-24 DOI: 10.1109/ITCIndia202255192.2022.9854735 Ranit Das, Tapobrata Dhar, S. Roy

Transfer-Matrix Abstractions to Analyze the Effect of Manufacturing Variations in Silicon Photonic Circuits

Pub Date : 2022-07-24 DOI: 10.1109/ITCIndia202255192.2022.9854738 Pratishtha Agnihotri, P. Kalla, S. Blair

Test Methodology Automation for Multi-Die Package Realization

Pub Date : 2022-07-24 DOI: 10.1109/ITCIndia202255192.2022.9854654 Rohini Gulve, Durga Prasad Bade, Santosh Kulkarni, M. Ricchetti, A. Cron
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