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2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
Innovation Practices Track: VLSI Functional Safety
Pub Date : 2023-04-24 DOI: 10.1109/vts56346.2023.10140059 Fei Su, Meirav Nitzan, Ankush Sethi, Vaibhav Kumar, D. AlexandrescuFunctional Test Generation for AI Accelerators using Bayesian Optimization∗
Pub Date : 2023-04-24 DOI: 10.1109/VTS56346.2023.10139981 Arjun Chaudhuri, Ching-Yuan Chen, Jonti Talukdar, K. ChakrabartyGerabaldi: A Temporal Simulator for Probabilistic IC Degradation and Failure Processes
Pub Date : 2023-04-24 DOI: 10.1109/VTS56346.2023.10140111 Ian Hill, A. Ivanov
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