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2022 IEEE International Test Conference (ITC) - 最新文献
Improvements in Automated IC Socket Pin Defect Detection
Pub Date : 2022-09-01 DOI: 10.1109/ITC50671.2022.00074 Vijayakumar Thangamariappan, Nidhi Agrawal, Jason Kim, Constantinos Xanthopoulos, Ken Butler, Ira Leventhal, Joe XiaoDiagnosing Double Faulty Chains through Failing Bit Separation
Pub Date : 2022-09-01 DOI: 10.1109/ITC50671.2022.00025 Cheng-Sian Kuo, Bing-Han Hsieh, C. Li, Chris Nigh, Gaurav Bhargava, Mason ChernVirtual Prototyping: Closing the digital gap between product requirements and post-Si verification
Pub Date : 2022-09-01 DOI: 10.1109/ITC50671.2022.00072 T. Nirmaier, Manuel Harrant, Marc Huppmann, Wendy You, G. Pelz
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