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ICSE 2000. 2000 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics. Proceedings (Cat. No.00EX425) - 最新文献
A study on silicon nodules due to the Si precipitation in wafer fabrication
Pub Date : 2000-11-13 DOI: 10.1109/SMELEC.2000.932444 Y. Hua, S. Redkar, L. An, G. AngFailure analysis and elimination of poly residues contamination in wafer fabrication
Pub Date : 2000-11-13 DOI: 10.1109/SMELEC.2000.932305 E. C. Low, L. An, Y. Hua, Yogaspari1-3 GHz MMIC amplifier design for transmit/receive applications
Pub Date : 2000-11-13 DOI: 10.1109/SMELEC.2000.932445 M. F. Zakaria, B. Majlis
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