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Proceedings. Ninth IEEE European Test Symposium, 2004. ETS 2004. - 最新文献
Manufacturing-oriented testing of delay faults in the logic architecture of symmetrical FPGAs
Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347602 P. Girard, O. Héron, S. Pravossoudovitch, M. RenovellA compression-driven test access mechanism design approach
Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347617 P. T. Gonciari, B. Al-HashimiAt-speed on-chip diagnosis of board-level interconnect faults
Pub Date : 2004-05-23 DOI: 10.1109/ETSYM.2004.1347572 A. Jutman
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