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Radiation Effects in Semiconductors - 最新文献
Novel Total Dose and Heavy-Ion Charge Collection Phenomena in a New SiGe HBT on Thin-Film SOI Technology
Pub Date : 2018-09-03 DOI: 10.1201/9781315217864-12 K. Iniewski1Chapter 3 Autonomous Detection and Characterization of Radiation-Induced Transients in Semiconductor Integrated Circuits
Pub Date : 2018-09-03 DOI: 10.1201/9781315217864-22 K. IniewskiSoft Errors in Digital Circuits: Overview and Protection Techniques for Digital Filters
Pub Date : 2018-09-03 DOI: 10.1201/9781315217864-23 K. Iniewski
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