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1984 International Electron Devices Meeting - 最新文献
Electrical characterisation of oxygen implanted silicon substrates
Pub Date : 1985-03-01 DOI: 10.1109/IEDM.1984.190849 D. Foster, A. Butler, P. H. BolbotA new trench isolation technology as a replacement of LOCOS
Pub Date : 1984-12-09 DOI: 10.1109/IEDM.1984.190786 H. Mikoshiba, T. Homma, K. HamanoHigh transconductance InAlAs/InGaAs double heterostructure MESFETs with in-situ aluminum oxide gate barrier
Pub Date : 1984-12-01 DOI: 10.1109/IEDM.1984.190722 T. Chang, R. Behringer, R. Howard, A. Liao, L. Jackel, E. Caridi, W. Skocpol, R. Epworth
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