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2020 IEEE International Test Conference India - 最新文献
A non-ICL UVM approach to verifying DFx IJTAG network and its pros and cons v/s the ICL-PDL approach
Pub Date : 2020-07-01 DOI: 10.1109/ITCIndia49857.2020.9171799 Ronak Dham, Harish GumudavelliValidating and Characterizing a 2.5D High Bandwidth Memory SubSystem
Pub Date : 2020-07-01 DOI: 10.1109/ITCIndia49857.2020.9171795 S. Menon, V. Murugan
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