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2017 39th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - 最新文献
Chip-Level ESD-induced noise on internally and externally regulated power supplies
Pub Date : 2017-10-18 DOI: 10.23919/EOSESD.2017.8073450 Yang Xiu, N. Thomson, R. Mertens, Collin Reiman, E. RosenbaumAnalysis and solution to the ESD failure caused by plasma protection diodes for MIM capacitors
Pub Date : 2017-09-01 DOI: 10.23919/EOSESD.2017.8073458 Jian Liu, N. PeacheyElectrostatic discharge characteristics of conductive polymers
Pub Date : 2017-09-01 DOI: 10.23919/EOSESD.2017.8073442 T. Viheriäkoski, Eira Kärjä, Reinhold Gärtner, P. Tamminen
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