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Surface Roughness and Scattering - 最新文献
Integrating Figure and Finish Measurements with Surface Profiling Instruments
Pub Date : 1992-05-01 DOI: 10.2172/10137803 P. Takacs, E. ChurchDetermination of Interface Roughness Using A Wavelength Scanning TIS Instrument
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1364/surs.1992.stub7 D. Ronnow, M. Bergkvist, A. Roos, C. RibbingLight Scattering from Photofabricated Surfaces with non-Gaussian Statistical Properties
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.1364/surs.1992.stua3 E. Méndez, R. Espinosa, J. F. Aguilar, H. Escamilla, Z. Gu
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