查看最新文献
订阅
分享
920发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) - 最新文献
Compendium of Single-Event Latchup and Total Ionizing Dose Test Results of Commercial Digital to Analog Converters
Pub Date : 2015-07-13 DOI: 10.1109/REDW.2015.7336706 F. Irom, S. AgarwalElectrical Mode Influence on TID Sensitivity of Integrated and Hybrid DC-DC Converters
Pub Date : 2015-07-13 DOI: 10.1109/REDW.2015.7336708 L. Kessarinskiy, D. Boychenko, A. Y. BorisovNeutron SEE Testing of the 65nm SmartFusion2 Flash-Based FPGA
Pub Date : 2015-07-13 DOI: 10.1109/REDW.2015.7336722 Durwyn Dsilva, Jih-Jong Wang, N. Rezzak, N. Jat
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
