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2008 13th European Test Symposium - 最新文献
Accelerated Shift Registers for X-tolerant Test Data Compaction
Pub Date : 2008-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2008.38 Martin Hilscher, M. Braun, Michael Richter, A. Leininger, M. GösselA Reliable Architecture for the Advanced Encryption Standard
Pub Date : 2008-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2008.26 G. D. Natale, M. Doulcier, M. Flottes, B. RouzeyreA Simulator of Small-Delay Faults Caused by Resistive-Open Defects
Pub Date : 2008-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2008.19 A. Czutro, N. Houarche, P. Engelke, I. Polian, M. Comte, M. Renovell, B. Becker
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